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飽(bǎo)和濕度試驗-防潮性能測(cè)試

簡要描述:

廣電計量飽(bǎo)和濕度試驗-防潮性能測(cè)試協助客戶制定測試方案,開展測試,出具測試報告。

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更新日期:2025-08-31

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飽(bǎo)和濕度試驗-防潮性能測(cè)試
品牌廣電計量服務區域全國
服務周期常規5-7個工作日服務資質CMA/CNAS

飽(bǎo)和濕度試驗-防潮性能測(cè)試

飽和濕度試驗採(cǎi)用嚴酷的溫度、濕度和偏壓條件,加速水分通過外部保護材料(密封劑或密封件)或沿著(zhe)外部保護材料和穿過它的金屬導體之間的界面滲透,與穩态濕度壽命試驗激發相同的失效機制。

服務内容

飽(bǎo)和濕度試驗-防潮性能測(cè)試協助客戶制定測試方案,開展測試 ,出具測試報告。

服務範圍

本測(cè)試适用於(yú)國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路闆,多層線路闆、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等産品。多在産品的設計階段開展,用於(yú)快速暴露産品的缺陷和薄弱環節。

檢測标準

JESD22-A118B

加速濕(shī)度抵抗-非偏置高加速應力試(shì)驗

JESD22-A110

高加速溫度和濕度應力試驗

AEC-Q101-Rev-E March1

車用分立半導體元器件的基於(yú)失效機理的應力測(cè)試驗證

AEC-Q100-Rev-H

集成電路的基於(yú)失效機理的應力測(cè)試驗證

檢測項目

半導(dǎo)體分立器件、集成電路、微電子器件、IC等的高加速應力測(cè)試、高壓蒸煮、無偏置HAST、無偏置溫濕度試驗、溫濕度偏置等項目。

相關資質

CNAS

測試周期

根據需求確定。

服務背景

爲什麽要做此測(cè)試? HAST高加速老化測(cè)試是主要用於(yú)評估在濕度環境下産品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器内設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的。

相對於(yú)傳統的高溫高濕測試,HAST增加瞭(le)壓力控制,可以實現超過100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移,腐蝕,絕緣劣化,材料老化等),大大縮短可靠性評估的測試周期。尤其在PCB、半導體、太陽能、顯示面闆等産品測試中,HAST高加速老化被作爲标準高溫高濕測試的快速有效替代方案。

我們的優勢

1、廣電計量是國内認可的專業第三方檢驗機(jī)構(gòu),可提供一站式技術服務;

2、廣電計量環境與可靠性事業部在全國建立瞭(le)18個實驗室,擁有專業的多學科專家團隊和的檢測設備(bèi);

3、廣電計量環境與可靠性實驗室具備(bèi)CMA、CNAS等資質,實行全國一體化管控模式,積極參加各類能力驗證項目,確(què)保檢測結果公正準確(què)、可追溯;

l4、廣電(diàn)計量在加速老化試驗方面有數十年積累,具有業内專業水平的試驗設備(bèi)和專業人才團隊。


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