廣電計量TOF-SIMS原位電(diàn)化學表征測(cè)試。TOF-SIMS(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)技術是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過将樣本表面轟擊成離子,並利用飛行時間質譜儀測量這些離子的時間和質量,從而確定樣本的成分及其分布情況。TOF-SIMS技術不僅可以提供元素分析信息,還可以提供離子組成分析、分子成像等詳細數據。
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更新日期:2025-08-31
在線留言| 品牌 | 廣電計量 | 服務區域 | 全國 |
|---|---|---|---|
| 服務周期 | 常規5-7個工作日 | 推薦服務 | 材料成分分析 |
廣電計量TOF-SIMS原位電(diàn)化學表征測(cè)試。TOF-SIMS(Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)技術是一種高分辨率表面成分分析的方法。它通過将樣本表面轟擊成離子,並利用飛行時間質譜儀測量這些離子的時間和質量,從而確定樣本的成分及其分布情況。TOF-SIMS技術不僅可以提供元素分析信息,還可以提供離子組成分析、分子成像等詳細數據。
● 核心儀器:氣相色譜儀(GC)、氣相色譜-質譜聯用儀(GC-MS)
● 測試項目:
頂(dǐng)空-氣相色譜(pǔ)(HS-GC)
固相微萃取-氣(qì)相色譜(pǔ)(SPME-GC)
熱裂解-氣相色譜(pǔ)質譜(pǔ)聯(lián)用(Py-GC-MS)
程序升溫(wēn)化學(xué)吸附(TPD/TPO/TPR)
氣(qì)體(tǐ)成分分析(如SF6、工業氣(qì)體(tǐ)等)
● 核心儀器:紅外光譜儀(FTIR)、紫外/可見分光光度計、核磁共振波譜儀(NMR)
● 測試項目:
吡啶紅外(酸性位點分析)
原位紅外(反應過程監測)
傅裏葉變(biàn)換紅(hóng)外(FTIR)
顯微紅外(微區分析)
固體(tǐ)核磁共振(固體(tǐ)NMR)
紫外/可見(jiàn)/近紅(hóng)外漫反射光譜
● 核心儀器:熱重分析儀(TGA)、差示掃描量熱儀(DSC)、熱膨脹儀
● 測試項目:
熱重-紅(hóng)外聯(lián)用(TGA-FTIR)
熱重-質譜(pǔ)聯(lián)用(TGA-MS)
熱膨脹系數測試
導(dǎo)熱系數測(cè)試(激光導(dǎo)熱儀)
● 核心儀器:X射線衍射儀(XRD)、小角X射線散射儀(SAXS)
● 測試項目:
常規XRD(物相分析)
變(biàn)溫(wēn)XRD(高/低溫(wēn)XRD)
掠入射XRD(GIXRD)
原位XRD(電(diàn)化學、反應過(guò)程)
同步輻射XRD
二維(wéi)小角散射(SAXS/WAXS)

● 核心儀器:BET比表面分析儀、納米壓痕儀
● 測試項目:
比表面積(jī)及孔隙度分析(BET)
化學(xué)吸附分析(TPD/TPR)
納米壓痕力學性能測試
● 核心儀器:掃描電鏡(SEM)、工業CT、超景深三維顯微鏡
● 測試項目:
微觀形貌觀測(SEM)
三維結構重建(工業CT)
材料織構(gòu)分析(XRD宏觀(guān)織構(gòu))

● 核心儀器:飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)、電感耦合等離子體質譜(ICP-MS)
● 測試項目:
表面成分分析(TOF-SIMS)
元素深度剖析(SIMS)
中藥(yào)/藥(yào)品成分分析(HPLC-MS)
● 核心儀器:紅外分光測油儀、氣體分析儀
● 測試項目:
油品紅外光譜檢測
工業廢氣成分分析
高純氣體雜質檢測

TOF-SIMS原位電(diàn)化學表征測(cè)試
我們的優勢
1、服務覆蓋全國:廣電(diàn)計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測(cè)機構,技術服務保障網絡覆蓋全國,化學分析實驗室分布在廣州、無錫、上海、天津、重慶等五地,方便客戶就近檢測(cè)服務。
2、行業機構認可:廣電(diàn)計量獲得瞭(le)衆多國内外機構和組織的認可與授權,擁有非常專業的技術服務隊伍。
3、專業技術服務:擁有的化學分析檢測(cè)設備(bèi)和專業的人才隊伍。能力範圍覆蓋提供有毒有害物質檢測(cè)(RoHS、REACH、POPs、VOC,消耗臭氧層物質等)、材料成分性能分析、可靠性壽命預計、食品接觸材料等多領域測(cè)試、評估、認證及培訓服務。
4、提供定制化服務:憑借齊全的檢測(cè)能力和多行業豐富的服務經驗,廣電計量可爲廣大客戶提供定制解決方案。助力企業産品的綠色環保管控,確(què)保企業産品符合各個國家和地區的法律法規要求。