近年來 ，随著半導體行業飛速發展，相關産品關鍵結構尺寸的進一步微納米化 ，透射電鏡逐漸開始作爲半導體失效分析的有力工具。爲瞭讓用戶對透射電鏡相關内容有進一步的瞭解，此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士 、廣電計量半導體技術副經理劉辰開展主題爲《透射電(diàn)鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應用》線上公開課 。（TEM介紹(shào)及其在半導(dǎo)體失效分析中的應用）
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更新日期 ：2025-08-30
價格 ：
| 品牌 | 廣電計量 | 課程形式 | 線上直播 |
|---|---|---|---|
| 課程時間 | 2023-3-30 上午9:30 | 講師 | 英國曼徹斯特大學材料學博士 劉辰 |
| 課程價格 | 免費 |
透射電子顯微鏡（TEM）於(yú)1932年左右發明，是一種以波長(zhǎng)極短的電子束作爲電子光源，利用電子槍發出的高速的、聚集的電子束照射至非常薄的樣品，收集透射電子流經電磁透鏡多級放大後成像的高分辨率 、高放大倍數的電子光學儀器。
透射電鏡具有分辨率高、可與能譜儀等其他技術聯用的優點，在物理 、化學 、生物學和材料學等多個領域有著(zhe)廣泛的應用。近年來，随著(zhe)半導體行業飛速發展，相關産(chǎn)品關鍵結構尺寸的進一步微納米化，透射電鏡逐漸開始作爲半導體失效分析的有力工具。
4nm制程芯片TEM成像圖(tú)
爲瞭(le)讓用戶對透射電鏡相關内容有進一步的瞭(le)解，此次公開課特意邀請英國曼徹斯特大學材料學博士、廣電計量半導體技術副經理劉辰開展主題爲《透射電(diàn)鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應用》線上公開課。屆時，報(bào)名用戶不僅能免費參與課程，聽課期間還有專業的技術專家團隊爲大家進行現場答疑。
【主題】透射電(diàn)鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應用
【時間】時間3月30日上午9:30-11:00
【講師】劉辰
● 英國曼徹斯特大學材料學博士
● 廣電計量MA技術線負責人
● 近十年材料分析和電鏡實操經驗
此次公開課不僅作爲一場公益課程，更對於(yú)報名並(bìng)成功聽課的客戶提供優惠檢測服務方案。
● 優惠期間(jiān)，可享受優先檢測(cè)服務
● 優惠期間，可享受AEC-Q培訓課程八折優惠
【優(yōu)惠期：2023.3.30-2023.4.30】
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