電(diàn)子元器件失效分析經常用到的檢查分析方法簡單(dān)可以歸類爲無損分析、有損分析。有損分析就是對器件進行各種微觀解剖分析,其首要要求就是在避免人爲損傷的前提下,展現内部缺陷形貌。
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更新日期:2025-08-30
在線留言| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務區域 | 全國 | 服務周期 | 常規3-5天 |
| 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務資質 | CMA/CNAS認可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 | 增值服務 | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發票 | 是 |
離子研磨(CP)測試強大專家技術團隊服務内容
離子研磨(CP)測試是在真空條件下,離子槍中低壓惰性氣體(氩)離子化,出射的陽離子又經加速,獲得具有一定速度的離子束投射到樣品表面,由於(yú)離子帶正電荷,其質量比電子大數千、數萬倍,所以離子束比電子束具有更大的撞擊動能,靠微觀的機械撞擊能量加工樣品。廣電計量擁有檢測設備(bèi),提供一站式離子研磨(CP)測試服務。
服務範圍
主要用於(yú)半導(dǎo)體材料、電池電極材料、光伏材料、不同硬度合金、岩石礦物質、高分子聚合物、軟硬複合材料、多元素組成材料等的截面制樣、界面表征。
檢測項目
離子研磨能實現無應力的橫截面和幾乎所有材料刨面,揭示瞭(le)樣品的内部結構同時限度地減少變(biàn)形或損壞,即的截面制樣、界面表征。
相關資質
CNAS
測試周期
常規(guī)5-7個(gè)工作日,可加急
離子研磨(CP)測試強大專家技術團隊服務背景
離子研磨通過氩離子束物理轟擊樣品,達(dá)到切割或表面抛光的作用。爲什麽要進行表面抛光?那是因爲在對精細電子元器件切片的時候,往往會因爲切片造成瞭(le)金屬延展、顆粒物填充等情況,對後續的檢查帶來不利影響。而這些就是前文提到的人爲損害。因此,我們對樣片進行表面抛光,可以在減免人爲損傷的前提下,展現内部缺陷形貌。
我們的優勢
1、配合牽頭“面向集成電路、芯片産業的公共服務平台建設項目"“面向制造業的傳感器等關鍵元器件創新成果産業化公共服務平台"等多個項目。
2、在集成電路及SiC領域是技術能力全面的第三方檢測機構之一,已完成MCU、AI芯片、安全芯片等上百個型号的芯片驗證。
3、在車規領域擁有AEC-Q及AQG324服務能力,獲得瞭近50家車廠的認可,出具近300份AEC-Q及AQG324報告,助力100多款車規元器件量産。