AEC-Q104認證測試第三方檢測機構

AEC-Q104認證測試第三方檢測機構服務背景

AEC-Q104是基於(yú)失效機制的車用多芯片組件（MCM）應力測試認證規範。MCM多芯片模組規範解決瞭(le)困擾IC設計廠商與Tier1汽車模塊商在MCM、系統構裝(System In Package, SIP)、堆疊式封裝(Stacked Chip)等複雜多芯片型态應該依循IC，還是模塊規範的難題。更是在車用行業規範中，定義車用闆階可靠性測試項目(Board Level Reliability, BLR)的規範。

AEC-Q104認證測試第三方檢測機構産品範圍

車用多芯片組件

測試項目

測試項目分組 

● A組：加速環(huán)境應力測(cè)試（6項）

● B組：加速壽命模拟測(cè)試(shì)（3項）

● C組
：封裝組裝完整性測(cè)試(shì)（8項）

● D組：晶圓制造可靠度測(cè)試(shì)（5項）

● E組：電氣特性確(què)認測(cè)試（10項）

● F組：瑕疵篩選監(jiān)控測(cè)試（2項）

● G組：空封器件完整性測(cè)試(shì)（8項）

● H組：模塊(kuài)專項測(cè)試（7項）

測試周期

2-3個(gè)月，提供全面的認證計劃、測(cè)試等服務

常見問題

Q：AEC-Q104與其他AECQ認證服務之間(jiān)的關(guān)系？

A：AEC-Q104規範中，共分爲A-H八大系列。其中，一大原則，在於(yú)MCM上使用的所有組件，包括電阻電容電感等被動組件、二極管離散組件、以及IC本身，在組合前若有通過AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM産品隻需進行AEC-Q104H内僅7項的測(cè)試，包括4項可靠性測(cè)試:TCT(溫度循環)、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP)；以及3項失效類檢驗:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；

若MCM上的組件未先通過AEC-Q100、AEC-Q101與AEC-Q200，那必須從AEC-Q104的A-H八大測(cè)項共49項目中，依據産品應用，決定驗證項目，驗證項目會變(biàn)得比較多。