廣電計量大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室聚焦集成電路失效分析技術,擁有業界專家團隊及先進的失效分析設備,可爲客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫(bāng)助制造商快速準確(què)地定位失效,找到失效根源。
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更新日期:2025-08-30
在線留言| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務區域 | 全國 | 服務周期 | 常規3-5天 |
| 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務資質 | CMA/CNAS認可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 | 增值服務 | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發票 | 是 |
大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室服務範圍
大規模集成電路芯片
檢測項目
試驗類型 | 試驗項⽬ |
無損分析 | X-Ray、SAT、OM 外觀(guān)檢(jiǎn)查 |
電特性/電性定位分析 | IV曲線量測(cè)、Photon Emission、OBIRCH、ATE測(cè)試(shì)與三溫(常溫/低溫/高溫)驗證 |
破壞性分析 | 塑料開封、去層(céng)、闆級切片、芯片級切片、推拉⼒測(cè)試 |
微觀顯微分析 | DB FIB切片截⾯分析、FESEM檢(jiǎn)查、 EDS微區(qū)元素分析 |
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CNAS
大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室服務背景
汽車新“四化"要求更強大的芯片功能,同時,車規級集成電路的集成度日益提⾼,也使車規級半導體芯片結構和制造工藝也日益複雜。這對可靠性提出瞭更高的要求,也帶來瞭更大的難(nán)度,集成電(diàn)路更容易失效,但失效定位與根源分析卻成爲一大難題。
我們的優勢
廣電(diàn)計量聚焦集成電(diàn)路失效分析技術,擁有業界專家團隊及先進的失效分析設備(bèi),可爲客戶提供完整的失效分析檢測(cè)服務,幫(bāng)助制造商快速準確(què)地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對(duì)客⼾的研發需求,提供不同應⽤下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶(hù)開展實驗規劃、以及分析測(cè)試服務,如配合客戶(hù)開展NPI階段驗證,在量産階段(MP)協助客戶完成批次性失效分析。