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大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室

簡要描述:

廣電計量大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室聚焦集成電路失效分析技術,擁有業界專家團隊及先進的失效分析設備,可爲客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫(bāng)助制造商快速準確(què)地定位失效 ,找到失效根源。

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更新日期:2025-08-30

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大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室
品牌廣電計量加工定制
服務區域全國服務周期常規3-5天
服務類型元器件篩選及失效分析服務資質CMA/CNAS認可
證書報告中英文電子/紙質報告增值服務可加急檢測
是否可定制是否有發票

大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室服務範圍

規模集成電路芯片


檢測項目

試驗類型

試驗項⽬

無損分析

X-Ray、SAT、OM 外觀(guān)檢(jiǎn)查

電特性/電性定位分析

IV曲線量測(cè)、Photon Emission、OBIRCH、ATE測(cè)試(shì)與三溫(常溫/低溫/高溫)驗證

破壞性分析

塑料開封、去層(céng)、闆級切片、芯片級切片 、推拉⼒測(cè)試

微觀顯微分析

DB FIB切片截⾯分析、FESEM檢(jiǎn)查、 EDS微區(qū)元素分析


相關資質

CNAS


大規模集成電路失效分析全國6大專項實驗室服務背景

四化"要求更強的芯功能,同時,規級集成電路的集成度益提,也使規級半導體結構和制造藝也益複雜。這對可靠性提出瞭更的要求,也帶來瞭更的難(nán)度,集成電(diàn)路更容易失效,但失效定位與根源分析卻成爲一大難題

我們的優勢

電(diàn)計量聚焦集成電(diàn)路失效分析技術,擁有業界專家團隊及先進的失效分析設備(bèi) ,可爲客戶提供完整的失效分析檢測(cè)服務,幫(bāng)助制造商快速準確(què)地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對(duì)客的研發需求,提供不同應下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶(hù)開展實驗規劃、以及分析測(cè)試服務,如配合客戶(hù)開展NPI階段驗證,在量産階段(MP)協助客完成批次性失效分析


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