功率循環測試強大專家技術團隊

功率循環測試強大專家技術團隊服務内容

廣電計量功率循環測(cè)試通過負載電流加熱和開關斷動作，來模拟器件工作中的結溫波動，通過一定程度的加速老化，以提前暴露器件封裝的薄弱點(diǎn)，評估封裝材料的熱膨脹系數差異對器件壽命的影響，是考核功率器件封裝可靠性最重要的可靠性測(cè)試，也是進行器件壽命模型建立和壽命評估的根本。

功率循環測試強大專家技術團隊服務範圍

車規級功率器件模塊及基於(yú)分立器件的等效特殊設計産(chǎn)品。

檢測标準

● DINENISO/IEC17025：General Requirements for the Competenceof Testing and Calibration Laboratories

● IEC 60747系列：Semiconductor Devices, Discrete Devices

● IEC 60749系列：Semiconductor Devices ‒ Mechanical and Climatic  Test Methods

● DIN EN 60664系列
：Insulation Coordination for Equipment Within Low-Voltage Systems

● DIN EN 60069系列
：Environmental testing

● JESD22-A119:2009：Low Temperature Storage Life

檢測項目

根據負載電流加熱的時長(zhǎng)不同，功率循環測(cè)試分爲秒級(jí)功率循環(huán)（PCsec）， 分鍾級(jí)功率循環(huán)（PCmin），如電力電子模塊AQG324測(cè)試标準規定，不同的負載電流加熱時長(zhǎng)，考察的封裝體對象也不同。如下表：

相關資質

CNAS

測試周期

常規5-7個工作日

服務背景

功率循環測(cè)試被稱(chēng)爲考核功率器件封裝可靠性最重要的實驗，尤其是 SiC MOSFET 功率器件的快速發展，是近幾年的研究熱點。與其他可靠性測(cè)試不同的是，功率循環測(cè)試原理雖然簡單，但測(cè)試技術、測(cè)試方法和數據處理卻涉及到半導體物理、電磁學
、傳熱學、結構力學和信号分析等多學科交叉，處理不當将得到錯誤的結論。

我們的優勢

廣電計量在Si基功率半導體模塊、SiC模塊等相關測試有著(zhe)豐富的實戰經驗，是SiC領域國内的第三方檢測機構之一，爲衆多半導體廠家提供模塊的規格書參(cān)數測試、競品分析、環境可靠性、壽命耐久和失效分析等一站式測試服務。

在功率循環測(cè)試方向，廣電計量引進多台西門子功率循環測(cè)試機台Power Tester1800A/1500A，同時還有部分國産高可靠性功率循環測(cè)試機台，能提供水冷/水乙二醇混合冷卻/油冷等冷卻方式，並(bìng)且滿足20℃~125℃的底溫要求，産能充足。

手法，可以協助廠(chǎng)家進行AQG324的認證檢測(cè)；擁有經驗豐富的材料及電性能可靠性專家，可以針對功率半導體進行失效分析及可靠性驗證方案的設計與執行。