錫須是從元器件焊接點的錫鍍層表面生長出來的一種細長的錫單晶,錫須的存在可能導緻電器短路、弧光放電,以及及光學器件損壞等危害。廣電計量錫須檢查失效分析第三方檢測機構擁有完整的錫須檢查試驗設備(bèi),經驗豐富的分析人才,能夠高效準確(què)的提供錫須檢查測試服務。
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更新日期:2025-08-30
在線留言| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務區域 | 全國 | 服務周期 | 常規3-5天 |
| 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務資質 | CMA/CNAS認可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 | 增值服務 | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發票 | 是 |
錫須檢查失效分析第三方檢測機構服務内容
廣電計量錫須檢查檢測(cè)項目包括:生長(zhǎng)速率、延展性、低熔點、可靠性、材料檢測(cè)、材料檢測(cè)、缺陷試驗、外觀檢測(cè)、環境試驗、數量估計、安全性檢測(cè)、潛在危險性、性狀、應力影響率、措施有效性、錫須密度等。
錫須檢查失效分析第三方檢測機構服務範圍
電(diàn)子元件、汽車(chē)電(diàn)子、醫療、通訊、手機、電(diàn)腦、電(diàn)器等PCBA部件。
參照标準
IEC 60068-2-82-2009環(huán)境試驗第2-82部分:電(diàn)子和電(diàn)氣元件晶須試驗方法等。更多及标準請聯系客服。
測試周期
3到7個(gè)工作日 可提供特急服務(wù)
檢測資質
CNAS認可
服務背景
錫須是一種在純錫或錫合金鍍層(céng)表面自發生長的細長錫晶體。在電子電路中,錫須會引起短路,降低電子器件的可靠性,甚至導緻電子器件的失效或失效。由於(yú)錫晶須通常在電鍍幾年甚至幾十年後才開始生長,這将對産品的可靠性造成很大的潛在危害。
從環境保護和人類健康的角度出發,中國、日本、歐盟、美國等國家或地區相繼出台相關法律法規或法令,明確(què)限制或禁止在電子電氣設備中使用鉛,使電子産品無鉛化。電子工業無鉛化的趨勢意味著(zhe)電子工業中應用Sn-Pb焊料将成爲曆史。同時,廣泛使用的錫鉛焊料也将被新的金屬或合金所取代。純Sn、Sn-Bi、Sn-Ag-Cu作爲一種可能的替代物,存在著(zhe)錫晶須自發生長的潛在問題。
我們的優勢
1、服務覆蓋全國:廣電(diàn)計量是一家全國布局、綜合性的國有第三方計量檢測(cè)機構,技術服務保障網絡覆蓋全國。
2、資源配置完善:廣電計量聚焦集成電路失效分析技術,擁有專家團隊及先進的失效分析系統設備(bèi)。提供定制化服務:憑借齊全的檢測(cè)能力和多行業豐富的服務經驗,廣電計量可針對客⼾的研發需求,提供不同應⽤下的失效分析咨詢、協助客戶開展實驗規劃、以及分析測(cè)試服務,如配合客戶開展NPI階段驗證,在量産階段(MP)協助客戶完成批次性失效分析。