廣電計量可滿足各等級電子元器件篩選方案加急檢測,提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案,幫(bāng)助企業及時發現和剔除有缺陷、易發生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備(bèi)可靠性提升。
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更新日期:2025-08-30
在線留言| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務區域 | 全國 | 服務周期 | 常規3-5天 |
| 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務資質 | CMA/CNAS認可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 | 增值服務 | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發票 | 是 |
電子元器件篩選方案加急檢測服務範圍
半導體集成電路:時基電路、總線收發器、緩沖(chōng)器、驅動器、電平轉換器、 門器件、觸發器、LVDS線收發器、運算放大器、電壓調整器、電壓⽐較器、 電源類芯片(穩壓器、開關電源轉換器、電源監控器、電源管理等)、數模轉換器(A/D、D/A、SRD)、存儲器、可編(biān)程邏輯器件、單片機、微處理器、 控制器等;
半導體分立器件:二極管、三極管、場(chǎng)效應管、達(dá)林頓陣列、半導體光電子器件等;
電阻器;電容器;磁珠;電感器;變(biàn)壓器;晶體振蕩(dàng)器;晶體諧振器;繼電器;電連接器;開關及⾯闆元件;濾波器;電源模塊等。
檢測标準
●GJB7243-2011電(diàn)子元器件篩(shāi)選技術要求
●GJB128A-1997半導(dǎo)體分立器件試(shì)驗方法
●GJB360A-1996電(diàn)子及電(diàn)氣(qì)元件試驗方法
●GJB548B-2005微電(diàn)子器件試(shì)驗方法和程序
●QJ10003—2008進(jìn)口元器件篩(shāi)選指南
●MIL-STD-750D半導(dǎo)體分立器件試(shì)驗方法
●MIL-STD-883G微電(diàn)子器件試(shì)驗方法和程序
電子元器件篩選方案加急檢測檢測項目
●外觀檢查;
●電(diàn)性能測(cè)試:常溫測(cè)試/高溫測(cè)試/低溫測(cè)試;
●環境/機械應力檢測(cè):振動、低溫貯存、高溫貯存、溫度循環、溫度沖(chōng)擊、恒定加速度或跌落、密封(粗檢漏、細檢漏 )、粒子碰撞噪聲檢測(cè)(PIND);
●高溫動(dòng)态老煉、高溫反偏老煉、功率老煉、恒流老煉、間(jiān)歇壽命老煉;
●芯片超聲檢測;
●X射線照相。
相關資質
CNAS
服務背景
電子元器件是裝備(bèi)的關鍵原材料,元器件篩選是提升電子裝備(bèi)可靠性的關鍵手段,嚴格執行型号的三級篩選管理規定,從源頭上保證裝備(bèi)的可靠性和質量一緻性是電子裝備(bèi)批産(chǎn)的關鍵。
我們的優勢
廣電計量可滿足各等級元器件篩選方案設計和檢測需求,提供電子元器件測試、評估、質量保證的成套方案,幫(bāng)助企業及時發現和剔除有缺陷、易發生早期失效的元器件,提高電子元器件的使用可靠性,保障和支撐電子裝備(bèi)可靠性提升。