集成電路工程化量産測試可加急檢測

集成電路工程化量産測試可加急檢測服務範圍

集成電路：微處理器、控制器
、可編程邏輯器件、存儲器系列、總線接⼝系列、射頻器件、放大器、AD/DA，驅動芯片、監控芯片、電源類芯片等

檢測标準

● GJB 597B-2012半導體集成電路通用規範

●GJB 2438A-2002混合集成電路通用規範

● GJB 548B-2005微電子器件試驗方法和程序

● GJB 7400-2011合格制造廠認證用半導體集成電路通用規範

● 行業規範：MIL、IEEE、JEDEC等

● 客制标準
：産品⼿冊(cè)、詳細規範、測(cè)試方案

檢測項目

相關資質

CNAS

集成電路工程化量産測試可加急檢測服務背景

集成電路測試卡位産業鏈關鍵節點，貫穿設計、制造、封裝測試以及應用的全過程。測試在保證芯片質量
，産品交付、項目驗收及推向應⽤具有重要作⽤。而芯片設計多樣化和定制化
，對測試人才和技術經驗要求明顯提升，如何實現快速⼯程化和量産将⾯臨極⼤挑戰。

我們的優勢

廣電計量擁有一支經驗豐富的IC測試技術開發團隊，可提供各類芯片的測試方案開發、測試硬件開發
、測試程序開發與調試，小批量測試、應⽤驗證。從⼯程化到量産的全流程專業定制化的⼀站式服務。