超大規模集成電路動态老煉與測(cè)試是確(què)定或評估⼤規模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計 、監控⽣産、保證質量、分析失效以及指導應⽤的重要⼿段。
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更新日期：2025-08-30
價格：
| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務區域 | 全國 | 服務周期 | 常規3-5天 |
| 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務資質 | CMA/CNAS認可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 | 增值服務 | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發票 | 是 |
超大規模集成電路動态老煉與測試服務範圍
處理器、存儲器、AD/DA、接⼝芯片等⼤規模集成電路 、适用於各種封裝（DIP、SOP、BGA、PGA、QFP、PLCC、LCC等）。
超大規模集成電路動态老煉與測試檢測标準
l GJB597A-1996半導體集成電路總規範
l GJB2438A-2002混合集成電路通⽤規範
l GJB548B-2005微電子器件試驗⽅法和程序
l GJB7243-2011電子元器件篩選技術要求
l AEC-Q100 STRESS TEST QUALIFICATION FOR INTEGRATED CIRCUITS
l MIT-STD-883E TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS
l JESD22-A108-A Temperature, Bias, and Operating Life
檢測項目
試驗設備 | 設備能⼒ |
超大規模集成電路動态老煉 | 系統分區：16 區； I/O通道數：128 路； 信号頻(pín)率：100MHz； 向量編(biān)程深度：32M； 試驗溫度：-10℃〜+125℃(±2℃)。 |
超大規模集成電路測試 | 能進⾏動态功能測試、直流參(cān)數測試、交流參(cān)數測試；能進⾏常溫測試 、低溫測試、⾼溫測試，溫度範圍 ：-55℃〜+150℃ (±2℃)；I/O通道數：512路；信号頻率 ：≥200MHz；可升級； 向量編(biān)程深度 ：64M。 |
相關資質
CNAS
服務背景
在半導體集成電路國産化、小型化、高集成、高性能要求的趨勢下，行業引入瞭(le)⼤量新材料 、新⼯藝和新的器件結構，導緻集成電路更高的缺陷密度，動态老煉與測(cè)試是保證及提高其可靠性和質量⼀緻性的關鍵⽅法 。
我們的優勢
l 通過對大規模集成電路施加特定測(cè)試向量（有效測(cè)試向量），激勵内在缺陷和錯誤形成響應，並(bìng)通過電應力和熱應力的加速，在短時間内讓不良品表現出失效現象 ，並(bìng)通過測(cè)試⼿段予以剔除，以達到提高⼤規模集成電路使⽤可靠性的⽬的 。
l 超⼤規模集成電路測試是確(què)定或評估⼤規模集成電路的功能和電性能的過程，是驗證設計、監控⽣産、保證質量、分析失效以及指導應⽤的重要⼿段 。特别在集成電路⽣産後期和使⽤前期不良率驗證過程中，採(cǎi)⽤适當的測試向量和全⾃動化的測試設備，可全⾯快速地識别不良産品，提⾼産品的交付可靠性 。
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